在5G通信、新能源汽車、人工智能等新興產業的驅動下,IC封裝正朝著高密度、高可靠性、微型化方向加速演進。然而,載板與芯片間的粘接失效問題始終是制約封裝良率的核心痛點。而等離子清洗機技術憑借其獨特的分子級表面處理能力,正成為破解這一難題的關鍵技術路徑。
IC封裝過程中,載板與芯片的粘接界面存在三類典型污染物:
有機殘留物:光刻膠剝離不徹底、環氧樹脂固化放氣產物形成的碳氫化合物薄膜,厚度僅0.1-1μm卻足以阻隔金屬鍵合;
金屬氧化物:鋁引線框架表面自然形成的Al?O?氧化層,導致金-鋁鍵合剪切強度下降40%;
微顆粒污染:晶圓切割產生的硅碎屑、空氣中的塵埃顆粒,在鍵合界面形成應力集中點。
這些污染物在顯微鏡下呈現為蜂窩狀結構,使實際接觸面積不足理論值的30%,直接導致粘接強度衰減、熱膨脹系數失配引發的分層現象。
等離子清洗通過活性粒子與材料表面的物理-化學雙重作用實現深度凈化:
物理轟擊效應:氬氣等離子體以500-800eV能量轟擊表面,產生"濺射清洗"效果,可去除0.01-1μm級顆粒污染物。
化學刻蝕反應:氧氣等離子體產生的氧自由基(·O、·O?)與有機物發生氧化分解反應,生成CO?、H?O等揮發性產物。對環氧樹脂放氣產物的去除率可達99.2%,表面碳含量從18.7%降至0.5%以下。
表面活化改性:氫等離子體通過還原反應去除金屬氧化物,同時引入羥基(-OH)、羧基(-COOH)等極性基團。接觸角測試顯示,處理后載板表面水接觸角從78°降至12°,表面能提升至72mN/m,顯著改善粘接劑潤濕性。
等離子清洗效果高度依賴工藝參數的協同優化:
氣體配比策略:對于鋁引線框架,采用O?/Ar=3:1的混合氣體,既保證氧化層去除效率,又避免過度刻蝕導致表面粗糙度惡化。
功率密度控制:射頻功率密度需控制在0.5-1.5W/cm2范圍。功率過低導致清洗不足,過高則引發表面損傷。
處理時間窗口:典型清洗周期為120-300秒,需根據材料特性動態調整。
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